垛式支架检测

视觉检测：使用高清摄像设备对垛式支架进行拍摄，利用计算机视觉技术识别支架的几何形状和表面缺陷，自动检测并识别出潜在的结构问题和表面损伤。

超声波检测：将超声波传感器置于垛式支架的关键部位，通过超声波的传播速度和回波分析判断支架内部是否存在裂纹或空洞等结构性缺陷。

X射线检测：使用X射线成像仪器对支架进行全方位扫描，利用其穿透性和高分辨率优势，帮助发现支架内在的结构缺陷和焊接质量问题。

磁粉探伤：通过在支架表面施加磁场并喷洒磁粉，以目视或荧光显微观察来检测表面及近表面缺陷，特别适合于检测铁磁性材料制成的支架。

声发射检测：安装声发射传感器，在支架承载荷载时监听突然释放的能量（声发射事件），从而定位和识别支架结构上的微裂纹和其他缺陷。

红外成像检测：采用红外热成像技术，检测支架表面温度变化，识别因受力不均或材料缺陷导致的异常热辐射区域，揭示隐藏的结构问题。

1. 超声波探伤仪：用于检测支架材料内部缺陷，例如裂纹、气孔或夹杂物等，通过超声波反射信号来判断内部结构的完整性。

2. 激光位移传感器：用于监测支架的变形情况，能够高精度测量支架在不同荷载情况下的形变，确保支架在工作状态下的稳定性。

3. 红外热成像仪：用于检测支架表面的温度分布，可识别由于内部结构缺陷导致的异常温升区域，从而预判潜在的故障点。

4. 应变片及数据采集系统：用于测量支架在受力过程中的应变变化，确保支架在使用过程中处于安全的应力范围。

5. X射线检测设备：用于对支架进行无损检测，特别适用于识别支架内部的密度变化或结构异常，通过射线透过率的变化识别内部缺陷。