细粒检测

显微镜观察法：使用光学显微镜或电子显微镜，可以直接观察细粒的形态和分布。适用于样品中颗粒可被直接观察到的情况。

筛分法：使用不同孔径的筛网对样品进行筛分，通过测量筛上、筛下物的质量百分比来判断细粒的含量。这种方法适用于颗粒较大的样品。

激光粒度分析法：通过激光散射原理，测量样品中细粒的粒径分布。这种方法快捷且能高精度测量各种大小范围的颗粒。

沉降法：基于颗粒在液体中沉降速度的差异，通过测量不同时刻沉积的颗粒来分析细粒含量。这种方法适用于密度差明显的颗粒体系。

X射线衍射法：用于复杂样品，通过分析X射线衍射图谱，可以获得有关样品中细粒的晶体结构和颗粒信息。

图像分析法：通过拍摄颗粒图像并使用计算机软件进行图像分析，计算颗粒的大小、形状及其分布情况。

热分析法：通过热重分析等技术，在升温过程中测量样品的重量变化来推断出细粒的特性。

比表面积测定法：例如BET法，通过测量气体吸附来计算样品的比表面积，以推测其中细粒的大小和含量。

激光粒度仪：利用激光散射原理测量细粒的粒径分布，可用于工程材料和化妆品等行业的细粒检测，快速、准确。

动态光散射仪：通过测定颗粒在悬浮液中的布朗运动来分析粒度，适用于毫微米级细颗粒的检测，可以用于药物、纳米材料等领域。

扫描电子显微镜（SEM）：提供细粒的高分辨率表面形貌图像，适合样品的形貌和粒径的微观分析，可以调研和研究化学制剂及混合材料。

透射电子显微镜（TEM）：通过透射电子提供样品内部结构信息，适合高精度的细粒形貌和尺寸分析，常用于纳米粒子和复合材料的研究。

激光衍射粒度仪：通过检测激光衍射的角度测量颗粒大小，适合快速测量多种样品的颗粒分布，广泛应用于工业材料的粒度检测。

静态光散射仪：利用光通过悬浮颗粒的散射来分析细颗粒的粒度，主要用于解决水处理行业的细颗料分布检测。

图像分析粒度仪：通过数码图像技术分析细粒的形状和粒径，适用于需要形态分析和粒径分布的精细化工、食品等行业。