表面成形检测

视觉检测法：利用高速摄像机或光学传感器对物体表面对比度、纹理、颜色等进行实时捕捉，通过图像处理软件分析，以识别表面缺陷或不规则的形变。

激光扫描法：通过激光束照射表面，记录反射光的变化，从而构建三维表面模型。通过对比理想模型，可以检测出表面的凹凸不平或变形情况。

超声波检测法：使用超声波探头发射和接收声波信号，检测材料内部或表面的缺陷，并通过回声信号的增减来分析表面的平整度与光滑度。

X射线检测法：适用于金属或复合材料表面的成形监测，通过透射X射线探测表面形状变化以及内部应力分布，引导进一步的表面改良。

电涡流检测法：通过电磁线圈生成涡流感应表面，由于表面几何形变或材料特性变化（如裂纹、凹坑），引起涡流的变化，进而达成对表面成形的无损检测。

接触式探针测量：通过机械探针在表面移动，记录其高度变化，进而生成精准的表面轮廓图，判断其是否符合预期的设计规格。

白光干涉测量：采用白光干涉仪结合光谱相位技术，对表面微观形貌进行高度精确测量，适合于高精密度的表面成形检测。

接触式轮廓仪：能够通过探针与被测表面直接接触，记录下表面的高度变化，生成详细的表面轮廓图，以评估表面成形的质量和一致性。

光学轮廓仪：利用光学干涉或共聚焦显微镜技术，无需直接接触表面，即可提供高分辨率的三维表面形貌数据，适用于敏感材料。

三坐标测量机（CMM）：通过机械臂配备的探头在被检测物体表面进行点对点的测量，精确评估三维尺寸和形状偏差。

激光扫描仪：采用激光束扫描表面，生成高精度的三维数字模型，适合用于大型物体或复杂形状的快速表面形貌检测。

原子力显微镜（AFM）：可以在纳米尺度上成像，提供超高分辨率的表面拓扑细节，适合用于对精细微观结构的形貌分析。

白光干涉仪：利用白光干涉技术可以实现非接触式表面成形检测，特别适用于光滑或光反射率较高的表面分析。

超声扫描显微镜：通过超声波探测表面微小特征和次表面层次，评估材料内部或表面微缺陷以及厚度变化。