光学特性检测

点击:丨发布时间:2024-11-30 12:06:37丨关键词:光学特性检测

上一篇:半光制垫圈检测丨下一篇:古鹿锻压机床检测

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

北京中科光析科学技术研究所实验室进行的光学特性检测,可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。检测范围包括:单晶硅片、多晶硅片、石英玻璃、光学玻璃、LED灯珠、激光;检测项目包括不限于折射率测量、透射率、反射率、散射光强度测量、紫外-可见吸光度等。

检测范围

单晶硅片、多晶硅片、石英玻璃、光学玻璃、LED灯珠、激光器件、透镜、反射镜、滤光片、光栅、棱镜、非线性光学晶体、液晶显示屏、光纤、薄膜太阳能电池、光电二极管。

检测项目

折射率测量、透射率、反射率、散射光强度测量、紫外-可见吸光度、荧光光谱分析、消光系数测定、色散特性测量、光学带隙测定、光致发光强度、偏振光特性、光学均匀性检查、光学表面粗糙度测量、光学衰减系数、介电常数测定、非线性光学效应分析、双折射测量、光吸收边缘

检测方法

光学显微镜法:利用光学显微镜对样品进行直接观察,分析其光学特性如折射率、聚焦特性、透光性等。通过显微镜下的成像,评估样品的透光特性和表面不均匀性。

光谱分析法:使用光谱分析仪器(如光谱仪或色度计)测量样品对不同波长光的吸收、透射和反射特性,从而确定物质的光学特性。通常包括紫外-可见光谱、红外光谱等。

激光干涉法:采用激光干涉仪测量样品表面或内部的折射率变化,通过分析干涉图样提供的位移进行精确测量。这种方法适用于高精度光学元件的特性分析。

椭偏仪法:利用椭偏仪测量薄膜材料的光学特性,通过分析偏振光的变化来获取材料的折射率和厚度等特性参数。

光热膨胀法:通过分析材料在不同温度下对光响应的变化,来检测材料的光热膨胀特性和其他温度相关的光学性质。

检测仪器

分光光度计:用于测量样品的光吸收特性。通过分析不同波长的光在样品中的透过率和吸收率,可以了解材料的光吸收范围和强度。

光谱分析仪:用于测定材料对各种光波(紫外光、可见光、红外光等)的响应。通过分析光谱图,可以获取材料的反射、透射和吸收光谱。

显微拉曼光谱仪:利用拉曼散射原理,测量样品在激光照射下的振动或旋转能级变化,从而得出材料的分子结构和对光的响应特性。

光散射光度计:用于测量光在颗粒或纤维等不透明或半透明材料上的散射特性。通过散射模式分析可以了解材料的颗粒大小、形状和折射率等光学特性。

椭圆偏振仪:用于研究材料表面的光学性质,测量偏振光在材料表面反射时的偏振态变化,从而推断材料的厚度、折射率、消光系数等光学参数。

干涉显微镜:用于测量样品表面的光学厚度或高度变化,通过干涉图样分析,可以获得高精度的表面轮廓和膜层厚度信息。

光学相干断层扫描仪(OCT):用于以非侵入性方式成像,获取样品的三维光学特性,广泛应用于生物组织成像和材料科学研究。

国家标准

如果您需要指定相关标准,或要求非标测试、设计试验等,请与工程师联系!

GB/T 41869.3-2024  光学和光子学 微透镜阵列 第3部分:光学特性测试方法

GB/T 44450-2024  光学和光子学 光学材料和元件 0.78 μm~25 μm红外光谱用光学材料特性

GB/T 44276.1-2024  显微镜 盖玻片 第1部分:尺寸偏差、厚度和光学特性

20210829-T-339  光路板 基本试验和测量程序 第2部分:光路板光学特性测量条件导则

GB/T 34879-2017  产品几何技术规范(GPS) 光学共焦显微镜计量特性及测量不确定度评定导则

GB/T 15972.44-2017  光纤试验方法规范 第44部分:传输特性光学特性的测量方法和试验程序 截止波长

GB/T 15972.48-2016  光纤试验方法规范 第48部分:传输特性光学特性的测量方法和试验程序 偏振模色散

GB/T 26332.2-2015  光学和光子学 光学薄膜 第2部分:光学特性

GB/T 15972.40-2008  光纤试验方法规范 第40部分:传输特性光学特性的测量方法和试验程序 衰减

GB/T 15972.46-2008  光纤试验方法规范 第46部分:传输特性光学特性的测量方法和试验程序 透光率变化