复盖层厚度检测

电容法：利用电容器两极板之间的介质变化，当覆层厚度变化时，电容值也会相应变化，通过测量电容值可以推算出覆层厚度。

电涡流法：通过测量电涡流感应强度变化来检测覆层厚度，适用于导电基材上的非导电覆层。

超声波检测法：利用超声波脉冲在材料界面上的反射特性，不同厚度会产生不同的反射信号，分析这些信号可以得出覆层厚度。

磁感应法：通过测量磁场的变化来评估非磁性覆层在磁性基材上的厚度，通常用于检测钢铁上的非磁性覆层。

X射线法：通过X射线穿透覆层并测量其强度损失来评估厚度，适合高精度要求的场合，一般用于多层复合材料的分析。

激光三角测量法：利用激光投射和三角几何原理，通过计算激光到达被测表面并返回的时间差来测定厚度，适合高精度和快速检测。

光学显微镜法：对覆层切片后的横截面进行显微观察和测量，适用于小范围内的微观分析。

太赫兹时域光谱技术：利用太赫兹波在不同介质中的穿透特性，可以非接触地测量覆层厚度及其分布。

超声波测厚仪：利用超声波原理，通过发射超声波到待测材料表面，并接收反射波以测量覆盖层的厚度。适合检测多种材质的薄层，如金属、塑料、玻璃等。

涡流测厚仪：基于电磁感应原理，适用于非导磁材料的涂层厚度检测，如油漆、塑料层的厚度，尤其用于有色金属基材上的涂层。

磁性测厚仪：通过磁性吸力大小来测量铁磁性基材上的非磁性涂层厚度，适用于钢铁表面涂层的检查，如油漆、电镀层等。

X射线测厚仪：利用X射线透过物体的衰减程度测量涂层厚度，适用于多层覆盖物或比较厚的涂层，能精确测量金属涂层的厚度。

激光测厚仪：使用激光束的反射原理来测量距离，通过计算光束在覆盖层上的反射时间差来确定厚度，适用于无需接触材料表面的快速测量。

光学干涉仪：通过光的干涉现象检测透明或半透明涂层的厚度，适用于光学薄膜、聚合物涂层等高精度测量。

电极厚度计：使用电化学反应来确定覆盖层厚度，通常用于电镀层厚度的测量，通过导电性变化来判断厚度。