半贵金属检测

1. 样品制备：将待检测半贵金属样品进行粉碎、研磨，根据需要选择合适的样品前处理方法，如溶解、消解等，以获得均匀的检测样品。

2. 光谱分析法：使用原子吸收光谱（AAS）或等离子发射光谱（ICP-OES）等技术，测量样品中半贵金属的特征光谱吸收或发射特征，以确定其浓度。

3. X射线荧光光谱（XRF）法：利用X射线照射样品，激发其内层电子，从而导致特征X射线的荧光发射，通过分析其特征谱图识别和量化半贵金属成分。

4. 电化学分析法：运用电化学手段，如电位滴定、伏安法等，测定样品中半贵金属的电化学信号，通过与标准样品对比确定其含量。

5. 质量光谱法（MS）：将样品离子化并通过质量分析器测量其质量-电荷比，从而识别样品中不同半贵金属的成分和含量。

6. 色谱分析法：采用气相色谱（GC）或液相色谱（HPLC）结合适当检测手段（如质谱或光谱），对半贵金属的化合物或化学形态进行分离、检测。

7. 显微分析法：结合扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）与能谱分析技术，对样品进行表面形貌和元素组成的微观检测。

X射线荧光光谱仪（XRF）：用于快速、无损地检测半贵金属的元素组成及其含量。

感应耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：通过将样品离子化并测量其质荷比，实现半贵金属含量的高灵敏度检测。

电子探针显微分析仪（EPMA）：利用电子束轰击样品表面，分析半贵金属的微量元素分布。

原子吸收光谱仪（AAS）：通过测量样品中半贵金属元素的原子吸收光谱线强度，确定其元素含量。

扫描电子显微镜（SEM）：用电子束扫描样品表面，结合能谱（EDS）实现半贵金属的成分和结构分析。