闭合磁畴检测

磁粉探伤法：通过在磁性材料表面涂覆磁粉，当材料存在闭合磁畴或缺陷时，磁粉会聚集在缺陷处，从而形成可视化的图案，便于检测。

超声波检测法：利用高频超声波在材料内部传播的特性，当遇到闭合磁畴或缺陷时，会产生反射和衰减，通过分析回波信号来判断材料的状态。

电磁感应检测法：通过施加交变电流产生的磁场与材料中的闭合磁畴相互作用，改变材料的电阻，进而通过测量电阻变化来察觉闭合磁畴的存在。

磁力显微镜法：利用极高分辨率的磁力显微镜直接观察材料表面的磁畴结构，以便检测闭合磁畴的分布及特性。

扫描电子显微镜（SEM）法：在扫描电子显微镜中结合电子束和磁场的作用，观察材料内部的微观结构，分析闭合磁畴的形态和类型。

热成像法：通过测量材料在受热或冷却过程中所产生的方法，材料中闭合磁畴的存在会导致局部温度分布不同，从而可以利用热成像仪进行检测。

霍尔探头：利用霍尔效应测量磁场强度，适用于细小磁畴检测。

磁力显微镜（MFM）：基于原子力显微镜技术，能高分辨率地成像磁畴结构。

磁光克尔显微镜：利用磁光克尔效应成像，提供观察磁畴动态变化的能力。

磁隧道结传感器：高灵敏度检测纳米级磁畴变化，常用于集成电路中的磁性检测。

扫描电子显微镜（SEM）与电子背散射衍射（EBSD）：用于半定量分析磁畴结构和材料晶体取向。

辉光放电光谱仪（GDOS）：检测磁性材料的成分，辅助分析磁畴性质。

同步辐射X射线显微镜：极高空间分辨率，适合纳米尺度磁畴的研究。

超导量子干涉设备（SQUID）：极高灵敏度探测微弱磁信号，适用于微小磁畴的定量分析。

矢量磁强计：提供三维磁场分量测量，便于磁畴结构全方位分析。