掺杂元素检测

质谱分析法：利用质谱仪对样品进行分析，通过测量离子的质荷比来确定其中的元素及其同位素组成。此方法具有高灵敏度和准确性，适用于检测不同基体中的微量掺杂元素。

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：通过将样品引入高温等离子体，使之发射出特征光谱，从而定性及定量分析样品中的元素成分。该方法适合于多元素同时分析，检测限较低。

X射线荧光光谱法（XRF）：利用X射线激发样品，使其产生特征X射线荧光，进而分析样品中的元素成分。这种方法非破坏性，样品制备简单，适合分析固体、液体或粉末样品中的元素。

辉光放电光谱法（GDS）：通过高能电晕放电使样品表面材料蒸发并激发发光，分析发光谱线来确定元素成分。此方法能进行深度剖析和表面定量分析，适合检测涂层或表面修饰材料中的掺杂元素。

中子活化分析（NAA）：将样品置于中子辐射下，使其元素成分发生核反应，产生特征伽马射线，通过检测这些伽马射线来进行元素分析。此方法不需要复杂的样品制备，高灵敏度，适合于分析固体样品中的掺杂元素。

扫描电子显微镜附带能谱仪（SEM-EDS）：利用电子束扫描样品表面并通过能谱仪收集其特征X射线谱，从而分析样品表面的元素组成。这种方法适用于材料表面的小范围掺杂元素分析。

拉曼光谱法：通过测量材料表面的拉曼散射光谱来分析掺杂元素，能够提供分子结构、化学组成等信息，尤其适用于研究碳基材料中的掺杂元素。

质谱仪：质谱仪通过分析带电离子在电场或磁场中的运动特性，精确检测样本中不同元素和同位素的组成，广泛用于高灵敏度的元素分析。

光谱仪：光谱仪通过分析元素发射或吸收的特定波长光谱，识别样品中各种化学元素的组成，适合用于光谱分析各类物质的元素特征。

扫描电子显微镜（SEM）附带能谱仪（EDS）：该组合不仅用于样品的高分辨成像，还通过X射线能谱分析确定元素的种类及分布情况，用于材料表面元素分析。

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：ICP-OES通过产生等离子体激发样品元素，使其发射特征光谱线，从而进行多元素快速定量分析，适用于多领域复杂基质的样品。

X射线荧光光谱仪（XRF）：XRF通过诱导样品元素产生二次X射线（荧光），不破坏样品即可进行元素定性和定量分析，适合现场快速检测。