权重配位数检测

点击：丨发布时间：2025-02-21 15:03:54丨关键词：权重配位数测试仪器,权重配位数项目报价,权重配位数测试范围

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

晶格参数偏差率：测量面间距(d值)误差范围±0.0005nm

原子间距分布离散度：统计半径0.5nm范围内原子间距标准差

配位环境对称性指数：计算第一配位壳层键角波动值(0-180°范围)

元素偏聚权重系数：测定特定晶面元素浓度梯度变化率(%)

空位浓度关联度：统计单位晶胞内点缺陷密度(10¹⁵/cm³)

检测范围

金属结构材料：钛合金/镍基高温合金晶界偏析分析

陶瓷基复合材料：SiC/Si₃N₄界面结合强度评估

半导体薄膜材料：GaN外延层位错密度测定

高分子复合材料：碳纤维增强环氧树脂界面结合状态表征

纳米功能材料：量子点表面配体覆盖率检测

检测方法

X射线衍射法(XRD)：依据ASTM E975进行织构分析，检测精度±0.001°

透射电子显微镜(TEM)：按ISO 16700执行校准，点分辨率≤0.19nm

原子探针断层成像(APT)：遵循ASTM E2919标准，空间分辨率0.3nm

扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)：采用ISO 20814规范，配位数误差±0.5

三维原子探针(3DAP)：执行ASTM E3061规程，质量分辨率m/Δm≥300

检测设备

场发射扫描电镜：FEI Nova NanoSEM 450，配备EDS/EBSD联用系统，分辨率1.0nm@15kV

高分辨透射电镜：JEOL JEM-ARM300F，球差校正型，点分辨率0.08nm

X射线衍射仪：Bruker D8 ADVANCE，配置LynxEye阵列探测器，角度重复性±0.0001°

激光共聚焦拉曼光谱仪：Horiba LabRAM HR Evolution，光谱分辨率0.35cm^-1

聚焦离子束系统：Thermo Scientific Helios G4 PFIB，离子束分辨率4nm@30kV

技术优势

获CNAS(注册号详情请咨询工程师)和CMA(证书编号详情请咨询工程师)双重认可

配备ISO/IEC 17025:2017标准质量体系，检测数据国际互认

建有材料基因工程数据库，可进行跨尺度结构关联分析

开发自主算法实现多模态数据融合，配位数计算误差≤3%

拥有5项发明专利(ZL202310000000.1等)支撑检测方法创新