取向膜检测
点击：丨发布时间：2025-02-22 15:03:50丨关键词：取向膜测试方法,取向膜测试周期,取向膜测试仪器
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
摩擦强度测试：量化取向膜与基板结合力，检测参数包含剪切强度（≥5 MPa）、剥离强度（≥0.8 N/mm）
厚度均匀性检测：测量膜层三维分布，公差范围≤±0.5μm（局部），整体偏差≤±1.2%
预倾角测定：评估分子排列角度，标准参数范围1°-5°（TN型），88°-92°（VA型）
表面粗糙度分析：Ra值控制≤0.8nm（光学级），Rz值≤5nm（工业级）
耐溶剂性测试：测定异丙醇浸泡后膜层完整性，质量损失率≤0.15mg/cm²
光学延迟量检测：测量双折射特性，波长范围380-780nm，精度±0.1nm
检测范围
液晶显示器件：TFT-LCD基板、柔性OLED取向层
光学功能薄膜：相位差膜、反射偏振膜、增亮膜
半导体封装材料：晶圆级封装用PI取向膜
电子纸组件：电泳显示微胶囊定向层
功能涂层材料：抗眩光涂层、防反射涂层
检测方法
ASTM D3359：划格法测试膜层附着力，配合3M胶带进行分级评定
ISO 14782：积分球法测定透光率与雾度，波长精度±0.5nm
GB/T 2523-2008：电容法测量薄膜厚度，分辨率达0.1nm
ISO 4287-1997：白光干涉法检测表面形貌，纵向分辨率0.1nm
JIS K 5600-5-7：十字线偏振法测定预倾角，角度误差≤0.2°
GB/T 2410-2008：紫外老化试验评估耐候性，累计辐照量≥15kWh/m²
检测设备
椭偏仪（J.A. Woollam M-2000）：全自动膜厚测量系统，支持190-1700nm广谱分析
原子力显微镜（Bruker Dimension Icon）：峰值力轻敲模式，Z轴分辨率0.05nm
摩擦试验机（Tester Sangyo EFM-300A）：可编程摩擦辊系统，压力控制精度±2%
双折射测量仪（Axometrics AxoScan）：全场延迟量检测，最大测量范围0-5500nm
恒温恒湿箱（Espec SH-261）：温控范围-70℃~150℃，湿度波动±2%RH
拉力试验机（Instron 5944）：500N载荷传感器，位移分辨率0.1μm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
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