三氧化二铼检测

点击：丨发布时间：2025-02-22 15:06:18丨关键词：三氧化二铼测试案例,三氧化二铼测试周期,三氧化二铼测试方法

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

纯度测定：X射线荧光光谱法（XRF）检测范围99.5%-99.99%，检测限≤0.01%

杂质元素分析：ICP-MS检测26种痕量金属元素（Al、Fe、Cu等），检出限0.1-5 ppm

晶型结构表征：X射线衍射（XRD）测定α相/β相比例，角度范围10°-80°（2θ）

粒度分布检测：激光衍射法测定D10-D90分布，测量范围0.1-1000 μm

热稳定性测试：同步热分析（STA）测定分解温度（400-800℃），升温速率5℃/min

检测范围

高纯三氧化二铼粉末：用于真空镀膜、半导体靶材制备

催化剂材料：石油重整催化剂、有机合成催化剂

电子陶瓷材料：微波介质陶瓷基体组分

合金添加剂：高温合金、超耐热合金母材

化工中间体：铼酸盐制备原料、电镀液成分

检测方法

ASTM E3061-17：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属杂质

ISO 21068-2:2008：X射线衍射法定量分析晶相组成

GB/T 223.5-2020：还原蒸馏-分光光度法测定总铼含量

ISO 13320:2020：激光衍射法粒度分析标准操作规程

GB/T 19421.12-2003：热重分析法测定高温失重特性

检测设备

Thermo Scientific ARL PERFORM'X XRF光谱仪：配备Rh靶X光管，测定主量元素含量

Agilent 7900 ICP-MS：四级杆质谱系统，配备氦碰撞池检测痕量杂质

Bruker D8 ADVANCE XRD：Cu Kα辐射源，LynxEye阵列探测器分析晶型

Malvern Mastersizer 3000：全自动湿法分散系统，Mie散射模型计算粒度

NETZSCH STA 449 F5 Jupiter：同步热分析仪，最高温度1600℃

在纯度测定环节，XRF光谱仪采用经验系数法进行基体效应校正，针对Re₂O₃的特征谱线Kα（9.21 keV）建立校准曲线，测试重复性误差控制在±0.15%以内。ICP-MS检测采用内标法（Rh-103）补偿基体干扰，通过动态反应池技术消除ArO⁺

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。