弱阻检测
点击：丨发布时间：2025-03-04 15:41:43丨关键词：弱阻测试案例,弱阻项目报价,弱阻测试仪器
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
电阻率检测：测量范围0.01Ω·cm~106Ω·cm，精度±0.5%
阻抗频率特性：20Hz~10MHz频段扫描，相位角误差≤1°
介电损耗角正切：0.0001~10量程，分辨率0.00001
导通电阻变化率：-40℃~150℃温变循环测试，ΔR≤5%
表面绝缘电阻：DC 500V电压下，≥1012Ω·cm²
检测范围
导电聚合物材料：PEDOT:PSS、聚吡咯薄膜等
半导体晶圆：硅基/碳化硅晶圆表面电阻
金属复合材料：铜-石墨烯复合导电层
电子元器件：连接器触点、继电器簧片
绝缘涂层：纳米氧化铝陶瓷涂层
检测方法
ASTM D257-14：固体电绝缘材料体积电阻率标准测试
IEC 60093:1980：绝缘材料体积/表面电阻测定
GB/T 1410-2006：固体绝缘材料体积/表面电阻试验
ISO 1853:2018：导电橡胶电阻率测定四探针法
JIS C2139:2007：介电材料频域谱测试规范
检测设备
Keysight B1505A功率器件分析仪：支持10nΩ~1PΩ电阻测量，最大电压3000V
Keithley 6517B静电计：0.1fA~20mA电流测量，1μV电压分辨率
Agilent 4294A精密阻抗分析仪：40Hz~110MHz频率范围，±0.08%基本精度
ESPEC PCT-322气候箱：温控范围-70℃~180℃，湿度10%~98%RH
Loresta-GX MCP-T700四探针测试系统：薄膜材料电阻率测量，厚度0.1~500μm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
推荐检测