成形绕组检测

点击:丨发布时间:2025-03-10 16:27:23丨关键词:成形绕组测试标准,成形绕组测试周期,成形绕组测试机构

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

绝缘电阻测试:测量绕组对地绝缘电阻(≥100MΩ/1kV)

介质损耗角正切值(tanδ):检测频率50Hz时介质损耗(≤0.5%)

局部放电量检测:额定电压下局部放电量(≤10pC)

匝间耐压试验:施加2.5倍额定电压(持续1min无击穿)

绕组变形分析:阻抗变化率检测(偏差≤±3%)

温升试验:满负荷运行温度监测(ΔT≤75K)

检测范围

电机定子/转子绕组(铜导体+云母带绝缘)

电力变压器高压绕组(环氧树脂浸渍纸绝缘)

电抗器多层饼式绕组(Nomex绝缘材料)

发电机条形绕组(玻璃纤维增强环氧树脂)

牵引电机成型线圈(聚酰亚胺薄膜复合绝缘)

检测方法

ASTM D149:固体电绝缘材料工频击穿电压试验

IEC 60270:局部放电测量标准

GB/T 10237:电力变压器绕组温升试验

GB/T 20833.3:旋转电机绕组绝缘电阻测试

ISO 2178:非磁性基体金属覆盖层厚度测量

ASTM D3638:介电击穿电压和介电强度测试

检测设备

Keysight E4980AL 精密LCR表:0.05%基本精度,频率范围20Hz-2MHz

Megger MIT525 绝缘电阻测试仪:测试电压达5kV,测量范围0.01MΩ-35TΩ

OMICRON MPD 600 局部放电检测系统:灵敏度0.1pC,带宽3kHz-1MHz

HIOKI PW3390 功率分析仪:0.06%功率精度,4MS/s采样率

FLIR T1040 红外热像仪:-40°C~2000°C量程,4.3MP分辨率

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。