点击:丨发布时间:2025-03-17 10:21:39丨关键词:晶带面测试机构,晶带面测试仪器,晶带面测试案例
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
晶面间距偏差测量:分辨率≤0.01Å
晶体取向角精度分析:误差范围±0.05°
表面粗糙度检测:Ra≤5nm
晶体缺陷密度统计:灵敏度≥0.1μm²
晶界分布均匀性评估:统计网格精度50×50μm
半导体材料:单晶硅片、砷化镓基板
金属合金:钛合金涡轮叶片、铝合金结构件
陶瓷材料:氧化铝基板、氮化硅轴承
光学晶体:氟化钙透镜、蓝宝石窗口片
复合材料:碳纤维增强聚合物构件
X射线衍射法:ASTM E112-13, GB/T 8362-2018
电子背散射衍射:ISO 24173:2009, GB/T 38885-2020
原子力显微术:ISO 11039:2012, GB/T 31227-2014
激光共聚焦显微术:ASTM F1811-19, GB/T 35088-2018
透射电子显微术:ISO 25498:2018, GB/T 38783-2020
蔡司Sigma 500场发射扫描电镜:配备Oxford Symmetry EBSD系统,空间分辨率1nm
布鲁克D8 Discover X射线衍射仪:配备VANTEC-500探测器,角度重复性±0.0001°
布鲁克Dimension Icon原子力显微镜:峰值力轻敲模式,Z轴分辨率0.1nm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。