薄膜二极管检测
点击：丨发布时间：2025-03-17 10:48:54丨关键词：薄膜二极管测试案例,薄膜二极管项目报价,薄膜二极管测试仪器
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
正向电压（VF）：0.5-1.2V（@10mA）
反向击穿电压（VBR）：≥50V（@1μA漏电流）
结电容（Cj）：≤5pF（@1MHz, 0V偏压）
反向恢复时间（trr）：≤50ns（@20mA正向电流）
温度特性：-55℃~+150℃工作温区验证
检测范围
半导体材料：硅基薄膜二极管、砷化镓薄膜二极管
封装类型：SMD封装器件、TO系列直插式器件
应用领域：高频电路用肖特基二极管、电源管理模块二极管
工艺类型：溅射法制备薄膜器件、化学气相沉积（CVD）器件
失效分析样品：短路/开路失效件、热老化实验样品
检测方法
正向电压测试：ASTM F1234-18 / GB/T 6571-2016
反向击穿电压测试：IEC 60747-1:2006 / GB/T 4586-2020
结电容测量：JIS C7030:2015 / SJ/T 11498-2018
反向恢复时间测定：MIL-STD-750F Method 3121 / GJB 33B-2021
温度循环试验：JEDEC JESD22-A104E / GB/T 2423.22-2012
检测设备
Keysight B1505A功率器件分析仪：支持0.1pA~10A电流精度测量
Tektronix DPO7104C示波器：4GHz带宽用于ns级瞬态响应分析
Chroma 19032耐压测试仪：0~5kV耐压测试及漏电流监测
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
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