点击:丨发布时间:2025-03-17 10:59:04丨关键词:晶胞对称测试仪器,晶胞对称测试周期,晶胞对称测试机构
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
晶格参数测定:a/b/c轴长度偏差(±0.001 Å)、轴间角度误差(≤0.05°)
空间群对称性验证:点群匹配度(≥99%)、滑移面/螺旋轴一致性分析
原子坐标精度评估:位置偏移量(≤0.01 Å)、热振动因子(B<5.0 Ų)
晶面间距一致性:d值相对误差(±0.2%)、多峰拟合残差(R<3%)
缺陷对称性分析:位错密度(10⁶-10¹⁰ cm⁻²)、孪晶界角度偏差(≤0.5°)
金属合金:钛合金/高温合金/形状记忆合金
半导体材料:硅基外延层/Ⅲ-Ⅴ族化合物
陶瓷材料:钙钛矿型氧化物/碳化硅结构陶瓷
有机晶体:药物多晶型/液晶分子组装体
纳米材料:量子点超晶格/金属有机框架(MOFs)
X射线衍射法:ASTM E112-13(织构分析)、ISO 22278:2020(单晶定向)
电子背散射衍射:GB/T 13301-2021(取向成像分析)
中子衍射法:ISO 21473:2019(轻元素定位)
高分辨透射电镜:GB/T 36075-2018(原子级分辨率)
同步辐射技术:ISO/TS 21432:2021(微区应力分析)
X射线衍射仪:Rigaku SmartLab(2θ精度±0.0001°,Cu Kα光源)
场发射扫描电镜:FEI Nova NanoSEM 450(分辨率1.0 nm@15 kV)
球差校正透射电镜:JEOL JEM-ARM300F(点分辨率0.08 nm)
中子衍射谱仪:Helios HNS-500(波长范围0.5-6.0 Å)
三维X射线显微镜:ZEISS Xradia 620 Versa(空间分辨率0.7 μm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。