霍尔电位检测

点击:丨发布时间:2025-03-18 14:34:17丨关键词:霍尔电位测试机构,霍尔电位测试范围,霍尔电位测试方法

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

霍尔系数测量:范围±1×10⁻³至±1×10⁵ cm³/C,精度±0.5%

载流子浓度分析:检测范围1×10¹²至1×10²⁰ cm⁻³,误差≤3%

迁移率测定:范围10⁻¹至1×10⁶ cm²/(V·s),重复性偏差±2%

电阻率检测:覆盖1×10⁻⁴至1×10¹² Ω·cm,四探针法校准

温度依赖性测试:温控范围-269℃至300℃,步进精度±0.1℃

检测范围

半导体材料:硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等

磁性材料:铁氧体、钕铁硼(NdFeB)、钴基合金

薄膜材料:ITO导电膜、二维材料(石墨烯、MoS₂)

电子元器件:霍尔传感器、磁阻元件、功率器件

新能源材料:钙钛矿太阳能电池、锂离子电池电极材料

检测方法

ASTM F76-08:霍尔效应测量标准方法,适用于半导体晶圆

ISO 14707:2015:表面分析霍尔效应测试规范

GB/T 13384-2008:半导体材料霍尔系数测试通用技术条件

IEC 62860-1:2013:有机电子器件霍尔效应测试指南

JIS H0605:1995:金属薄膜霍尔系数测定方法

检测设备

Lake Shore 7504霍尔测量系统:支持直流/交流霍尔测试,磁场范围0-2T

Keithley 4200A-SCS参数分析仪:集成四探针模块,最小电流分辨率1fA

Quantum Design PPMS-9T:低温强磁场霍尔平台,温度范围1.9K-400K

Agilent B1500A半导体分析仪:支持高频霍尔效应测试,频率至1MHz

Nanometrics HL5500PC:全自动霍尔 Mapping系统,样品尺寸兼容4-12英寸

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。