点击:丨发布时间:2025-03-18 14:34:17丨关键词:霍尔电位测试机构,霍尔电位测试范围,霍尔电位测试方法
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
霍尔系数测量:范围±1×10⁻³至±1×10⁵ cm³/C,精度±0.5%
载流子浓度分析:检测范围1×10¹²至1×10²⁰ cm⁻³,误差≤3%
迁移率测定:范围10⁻¹至1×10⁶ cm²/(V·s),重复性偏差±2%
电阻率检测:覆盖1×10⁻⁴至1×10¹² Ω·cm,四探针法校准
温度依赖性测试:温控范围-269℃至300℃,步进精度±0.1℃
半导体材料:硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等
磁性材料:铁氧体、钕铁硼(NdFeB)、钴基合金
薄膜材料:ITO导电膜、二维材料(石墨烯、MoS₂)
电子元器件:霍尔传感器、磁阻元件、功率器件
新能源材料:钙钛矿太阳能电池、锂离子电池电极材料
ASTM F76-08:霍尔效应测量标准方法,适用于半导体晶圆
ISO 14707:2015:表面分析霍尔效应测试规范
GB/T 13384-2008:半导体材料霍尔系数测试通用技术条件
IEC 62860-1:2013:有机电子器件霍尔效应测试指南
JIS H0605:1995:金属薄膜霍尔系数测定方法
Lake Shore 7504霍尔测量系统:支持直流/交流霍尔测试,磁场范围0-2T
Keithley 4200A-SCS参数分析仪:集成四探针模块,最小电流分辨率1fA
Quantum Design PPMS-9T:低温强磁场霍尔平台,温度范围1.9K-400K
Agilent B1500A半导体分析仪:支持高频霍尔效应测试,频率至1MHz
Nanometrics HL5500PC:全自动霍尔 Mapping系统,样品尺寸兼容4-12英寸
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。