聚焦摄谱仪检测

点击：丨发布时间：2025-03-20 14:09:10丨关键词：聚焦摄谱仪测试机构,聚焦摄谱仪测试案例,聚焦摄谱仪测试范围

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

元素定性定量分析：检出限0.1ppm-100%，相对标准偏差≤1.5%

波长校准验证：全波段误差≤±0.01nm

光谱分辨率测试：FWHM值≤0.015nm@313.2nm

检出限验证：Cd 228.8nm处信噪比≥50:1

仪器稳定性测试：4小时连续测量RSD≤0.8%

背景等效浓度测试：BEC值≤2ppb（As 193.7nm）

检测范围

金属材料：钢铁合金（Cr/Ni/Mo含量0.01-25%）、铝合金（Si/Cu/Mg含量0.005-12%）

半导体材料：硅片表面金属污染（Fe/Cu/Ni≤1E10 atoms/cm²）、GaAs外延层组分

环境样品：水质重金属（Pb/Cd/Hg/As≤50ppb）、土壤有效态金属元素

生物医药：血液微量元素（Zn/Fe/Cu 0.5-5μg/mL）、药物有机杂质

地质矿物：稀土元素配分测定（La-Lu 0.01-5%）、矿石贵金属含量

检测方法

ASTM E1257-16《辉光放电光谱仪标准测试方法》

ISO 20552:2007《工作场所空气-汞的测定》

GB/T 223.11-2008《钢铁及合金化学分析方法》

GB/T 20975.25-2020《铝及铝合金化学分析方法》

ASTM UOP979-14《催化剂中铂族金属测定》

ISO 17294-2:2016《水质-电感耦合等离子体质谱法》

检测设备

Thermo Fisher iCAP 7400 ICP-OES：轴向观测模式，光学分辨率0.007nm@200nm

Agilent 4100 MP-AES：氮气发生器驱动，检出限达ppt级

PerkinElmer Optima 8300 DV：双向观测系统，线性动态范围＞10⁶

HORIBA Jobin Yvon Ultima 2：Czerny-Turner光路设计，1200mm焦距光栅

Bruker S8 TIGER XRF：4kW Rh靶X光管，硅漂移探测器分辨率<140eV

Shimadzu ICPE-9820：三维全息光栅，167-852nm全波段覆盖

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。