高密度数字磁带检测

点击：丨发布时间：2025-03-25 10:20:08丨关键词：高密度数字磁带测试方法,高密度数字磁带测试标准,高密度数字磁带测试范围

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1.矫顽力（Hc）：测量范围50-250kA/m，误差1.5%

2.剩磁强度（Br）：基准值0.4-1.2T，分辨率0.01T

3.磁层厚度均匀性：厚度公差0.05μm

4.表面粗糙度（Ra）：要求≤5nm（接触式测量）

5.抗拉强度：轴向拉伸力≥50N/10mm宽度

检测范围

1.数据存储磁带（LTOUltrium系列/DDS系列）

2.前沿音像记录磁带（Betacam/DAT）

3.工业级备份磁带（IBM3592/TS1160）

4.医疗影像存储磁带（DICOM兼容型）

5.安防监控归档磁带（HD-MR/Hybrid格式）

检测方法

1.ASTMF1310-18：磁滞回线测试规范

2.ISO/IEC14496-27：数字介质耐久性评估

3.GB/T17200-2018：环境适应性试验规程

4.ISO11339:2004：粘合层剥离强度测定

5.GB/T26222-2010：磁记录材料电磁参数测量方法

检测设备

1.LakeShore7300系列振动样品磁强计（VSM）：磁滞特性分析

2.BrukerDektakXT-A表面轮廓仪：纳米级粗糙度测量

3.Instron5967双柱拉力试验机：抗拉强度测试

4.AgilentB1500A半导体分析仪：磁层电阻率测定

5.ThermoScientificARLEQUINOX100X射线衍射仪（XRD）：晶体结构分析

6.LabworksET-126电磁振动台：机械耐久性模拟

7.MTSCriterion万能材料试验机：动态弯曲疲劳测试

8.KeyenceVHX-7000数字显微镜：微观缺陷观测

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。