薄膜绕包线检测

点击:丨发布时间:2025-04-03 08:47:12丨关键词:薄膜绕包线测试机构,薄膜绕包线测试仪器,薄膜绕包线测试范围

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参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

检测项目

1. 薄膜厚度测量:基材厚度公差±2μm,覆盖层厚度≥25μm(依据IEC 60851-5)

2. 附着力测试:剥离强度≥1.5N/mm(ASTM D1000标准)

3. 耐电压试验:工频耐压≥5kV/1min(GB/T 3048.8规定)

4. 热收缩率测定:200℃/30min条件下收缩率≤3%(ISO 11501方法)

5. 表面粗糙度检验:Ra值≤0.8μm(GB/T 2523要求)

检测范围

1. 聚酰亚胺(PI)薄膜绕包电磁线

2. 聚酯(PET)薄膜绝缘绕组线

3. 聚萘酯(PEN)复合薄膜绕包线

4. 聚四氟乙烯(PTFE)高频绕包线

5. 云母带复合薄膜绝缘导线

检测方法

1. 厚度测量:采用GB/T 13541-2020《电气用塑料薄膜试验方法》

2. 击穿电压测试:依据IEC 60243-1:2013电极系统

3. 热老化试验:执行GB/T 11026.1-2016热重分析法

4. 机械强度检测:参照ASTM D882-18拉伸试验规程

5. 介质损耗测试:按GB/T 1409-2006西林电桥法实施

检测设备

1. Mitutoyo Litematic VL-50非接触式测厚仪(分辨率0.1μm)

2. Hipotronics DC 100kV耐压测试系统(精度±1%)

3. Instron 5967双立柱拉力试验机(量程50kN)

4. Netzsch TG 209 F3热分析仪(温度范围RT~1000℃)

5. Agilent E4980A精密LCR表(频率20Hz~2MHz)

6. Olympus DSX1000数码显微镜(500倍光学放大)

7. Elcometer 506附着力测试仪(0~25N量程)

8. Bruker ContourGT-K光学轮廓仪(表面粗糙度分析)

9. ESPEC PL-3KPH恒温恒湿箱(温控±0.5℃)

10. Haida HD2678A绝缘电阻测试仪(1000V/1TΩ)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。