高结晶对称相检测

点击：丨发布时间：2025-04-03 09:33:35丨关键词：高结晶对称相测试周期,高结晶对称相测试标准,高结晶对称相测试方法

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1. 晶格常数测定：精度±0.001Å（Cu-Kα辐射）

2. 空间群对称性验证：采用国际晶体学表ICSD数据库比对

3. 结晶度分析：通过积分峰面积法计算非晶相含量（误差≤1.5%）

4. 择优取向度测量：Lotgering因子计算（角度范围5°-80°）

5. 相纯度检测：XRD全谱Rietveld精修（Rwp值＜8%）

检测范围

1. 半导体材料：GaN/SiC外延层（002）面摇摆曲线半高宽≤200arcsec

2. 金属合金：镍基高温合金γ/γ'相含量比（精度±0.5wt%）

3. 陶瓷材料：氧化锆四方相/单斜相定量分析（检出限0.1vol%）

4. 高分子材料：聚丙烯α/β晶型比例测定（DSC熔融峰分离）

5. 光学晶体：铌酸锂单晶畴结构表征（空间分辨率10μm）

检测方法

1. X射线衍射法：ASTM E975-2020/GB/T 23413-2009

2. 电子背散射衍射：ISO 24173:2009/GB/T 35031-2018

3. 拉曼光谱法：ISO 20310:2018（激光波长532nm/785nm）

4. 中子衍射分析：ASTM E2627-19（波长1.665Å冷中子源）

5. 同步辐射表征：GB/T 36075.3-2018（能量范围5-30keV）

检测设备

1. Rigaku SmartLab X射线衍射仪：配备HyPix-3000探测器，角度重复性±0.0001°

2. ZEISS Sigma 500场发射扫描电镜：EBSD分辨率≤0.1μm@20kV

3. Malvern Panalytical Empyrean XRD：高温附件可达1600℃（真空度10⁻⁶mbar）

4. Bruker D8 ADVANCE XRD：配备LYNXEYE XE-T探测器，扫描速度10000cps

5. Thermo Fisher Talos F200X TEM：点分辨率0.12nm（STEM模式）

6. HORIBA LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪：空间分辨率0.5μm@532nm

7. Oxford Instruments Symmetry EBSD探测器：采集速度＞4000点/秒

8. Anton Paar HTK1200N高温腔室：温度稳定性±0.5℃@1600℃

9. Bruker D2 PHASER台式XRD：Theta-Theta测角仪（2θ范围-3°~148°）

10. Shimadzu XRD-7000：配备石墨单色器（Cu靶Kβ抑制比＞500:1）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。