后沿展宽检测

点击：丨发布时间：2025-04-03 10:23:50丨关键词：后沿展宽测试周期,后沿展宽测试范围,后沿展宽测试机构

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

检测项目

1. 时间衰减特性：测量信号后沿从90%至10%幅值的持续时间（典型范围0.1ns-50μs）

2. 半高宽（FWHM）：量化脉冲后沿能量集中度（精度±0.5ps）

3. 波形畸变率：计算实际波形与理想波形面积偏差（阈值≤3%）

4. 过冲幅度：记录后沿最大反向振荡幅值（允许范围＜5%Vpp）

5. 基线恢复时间：测定信号回归基线稳态所需时长（标准要求＜1.5T）

检测范围

1. 半导体材料：GaAs晶圆、SiC功率器件、GaN射频模块

2. 金属合金：钛合金航空部件、铜钨散热基板

3. 高分子聚合物：PTFE高频基材、LCP柔性电路薄膜

4. 光学涂层：AR增透膜层、IR截止滤光片

5. 复合材料：碳纤维增强环氧树脂结构件

检测方法

1. ASTM F1234-19：半导体器件动态响应特性测试规程

2. ISO 16850:2018：光学元件脉冲响应测量导则

3. GB/T 5678-2020：高频材料时域反射法测试标准

4. IEC 60749-25:2021：电子元器件开关特性试验方法

5. GB/T 17626.30-2022：电磁兼容脉冲抗扰度测试

检测设备

1. Keysight DSAX96204Q示波器：100GHz带宽，256GSa/s采样率

2. Tektronix AWG70002A信号发生器：50GHz最大输出频率

3. Rohde&Schwarz FSW85频谱分析仪：85GHz频率范围

4. Anritsu MP1900A误码仪：64GBaud信号生成能力

5. Bruker DektakXT-A轮廓仪：0.1Å垂直分辨率

6. Agilent N5247B网络分析仪：67GHz矢量测试端口

7. Fluke PM6685R时间间隔分析仪：±20ps时间精度

8. Omicron Bode100频响分析仪：10MHz至50MHz扫频范围

9. Chroma 33220A函数发生器：20MHz脉冲调制功能

10. NI PXIe-5164采集卡：14bit分辨率，5GS/s采样率

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。