点击:丨发布时间:2025-04-03 11:45:19丨关键词:低品位铜测试标准,低品位铜项目报价,低品位铜测试案例
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1. 总铜含量测定:采用差减法测定0.1%-20%含量范围
2. 可溶性铜分析:5%盐酸浸出液中Cu²+浓度检测
3. 伴生元素检测:As(0.001%-0.5%)、Pb(0.005%-1%)、Hg(0.0001%-0.01%)
4. 矿物组成分析:XRD法定性石英/黄铜矿/斑铜矿相含量≥1%
5. 浸出率测试:动态浸出条件下Cu溶出率偏差≤±2%
硫化铜矿石:黄铜矿(CuFeS₂)、斑铜矿(Cu₅FeS₄)等原生矿
氧化铜矿石:孔雀石[Cu₂CO₃(OH)₂]、硅孔雀石(CuSiO₃·nH₂O)
尾矿及废渣:浮选尾矿Cu≥0.2%、冶炼炉渣Cu≥0.5%
冶炼中间产物:冰铜(含Cu20%-70%)、粗铜阳极板(含Cu96%-98.5%)
再生资源材料:电子废料(Cu≥5%)、含铜污泥(Cu≥3%)
ASTM E53-2021《金属化学分析法测定铜含量》
ISO 1553:2023《不纯精炼铜-电解法测定铜含量》
GB/T 3884.1-2012《铜精矿化学分析方法 第1部分:铜量的测定》
GB/T 8152.11-2023《铅精矿化学分析方法 第11部分:铜量的测定》
JIS M8106:2020《粗铜中铜的电解分析法》
Thermo Fisher ARL PERFORM'X X射线荧光光谱仪:波长色散型,检出限0.001%
PerkinElmer PinAAcle 900T原子吸收光谱仪:火焰/石墨炉双模式,精度±0.5μg/L
Agilent 5110 ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪:轴向观测,多元素同步分析
Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:Cu靶Kα辐射(λ=1.5406Å),角度精度±0.0001°
Malvern Mastersizer 3000激光粒度分析仪:测量范围0.01-3500μm,重复性误差<1%
CEM Mars 6微波消解仪:40位高通量消解,最高温度300℃±1℃
Shimadzu AA-6880火焰原子吸收光谱仪:空气-乙炔火焰系统,特征浓度0.025μg/mL/1%
Hitachi UH5300紫外可见分光光度计:双光束系统,波长范围190-1100nm
JEOL JSM-IT800扫描电子显微镜:冷场发射源,分辨率1.0nm@15kV
Gamry Interface 1010E电化学工作站:恒电位仪精度±0.2%+20μV,电流量程±2A
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。