粒状硅铁检测
点击：丨发布时间：2025-04-03 12:15:48丨关键词：粒状硅铁测试案例,粒状硅铁测试标准,粒状硅铁测试方法
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1. 硅含量测定：采用化学分析法测定主元素含量（72-80%）
2. 铁含量分析：通过XRF光谱法测定余量金属成分（≥15%）
3. 碳硫磷杂质检验：红外吸收法测定C≤0.2%、S≤0.02%、P≤0.04%
4. 粒度分布测试：激光衍射法分析颗粒级配（0.2-10mm占比≥95%）
5. 堆积密度测定：振实密度仪测量松散态密度（1.8-2.2g/cm³）
6. 水分含量检验：热重分析法控制游离水≤0.1%
7. 表观形貌观测：扫描电镜分析颗粒球形度与表面缺陷
8. 微量元素筛查：ICP-MS法检测Al≤0.5%、Ca≤0.3%、Mn≤0.15%
检测范围
1. 冶金级粒状硅铁（FeSi75/FeSi65系列合金）
2. 铸造用硅铁合金（孕育剂/球化剂原料）
3. 炼钢脱氧剂（转炉/电炉冶炼用硅铁颗粒）
4. 金属硅粉制备原料（光伏级高纯硅前驱体）
5. 特种硅铁复合材料（包芯线/复合合金制品）
6. 出口贸易用散装粒状硅铁（集装箱运输规格品）
检测方法
1. ASTM E31系列：化学分析法测定主量元素组成
2. ISO 4159:2021：激光衍射法粒度分布测试规范
3. GB/T 4333.1-2019：硅铁化学分析方法总则及仲裁程序
4. ASTM E1019-18：碳硫测定用高频燃烧红外吸收法
5. GB/T 3653.8-2022：硼磷砷杂质含量的等离子体质谱法
6. ISO 13320:2020：激光粒度仪校准与验证标准
7. GB/T 14849.4-2020：工业硅化学分析方法第4部分：杂质元素测定
检测设备
1. Thermo Scientific ARL iSpark 8860直读光谱仪（全元素快速分析）
2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪（干湿法粒径分布测试）
3. LECO CS844碳硫分析仪（高频红外碳硫联测系统）
4. PerkinElmer NexION 350X ICP-MS（痕量元素超限值筛查）
5. Mettler Toledo XPR205水分测定仪（卤素灯加热失重法）
6. Quantachrome Autotap振实密度计（自动振实堆积密度测试）
7. Hitachi SU5000场发射扫描电镜（颗粒形貌显微结构分析）
8. Shimadzu EDX-7000 X射线荧光光谱仪（无标样快速成分分析）
9. Netzsch STA449F3同步热分析仪（热重-差热联用水分测定）
10. Retsch AS200 control筛分仪（机械振动法粒度验证）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
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