固溶体结构检测

点击：4丨发布时间：2025-04-07 11:44:29丨关键词：固溶体结构测试案例,固溶体结构测试机构,固溶体结构测试方法

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参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。

1. 晶格常数测定：采用XRD分析（2θ范围10°-90°），精度±0.0001 nm

2. 固溶度定量分析：通过EDS/WDS测定主元素含量偏差（±0.5 at.%）

3. 相组成鉴定：结合EBSD技术识别第二相体积分数（分辨率≥0.1%）

4. 元素偏析评估：EPMA线扫描（步长≤1μm）测定成分梯度分布

5. 位错密度计算：TEM明场像分析（加速电压200kV），误差≤10^12 m^-2

1. 金属合金体系：包括不锈钢（304/316L）、钛合金（Ti-6Al-4V）、铝合金（6061/7075）等

2. 陶瓷材料：氧化锆基（3Y-TZP）、碳化硅基（SiC-Al2O3）复合固溶体

3. 半导体材料：GaN/AlN超晶格、Si-Ge梯度固溶体薄膜

4. 高温合金：镍基单晶合金（CMSX-4）、钴基合金（Stellite 6B）

5. 功能材料：形状记忆合金（Ni-Ti）、热电材料（Bi2Te3-Sb2Te3）

1. ASTM E112-13：晶粒度测定与定量金相分析标准

2. ISO 14706:2014：表面元素分布的SEM-EDS测试规范

3. GB/T 13305-2008：不锈钢中α相面积分数测定方法

4. ASTM E1508-12：电子探针微量分析标准指南

5. ISO 20263:2017：TEM薄膜样品制备与位错密度计算规程

1. Rigaku SmartLab X射线衍射仪：配备9kW旋转阳极靶，可实现高精度晶格参数测定

2. FEI Nova NanoSEM 450场发射扫描电镜：搭配EDAX Octane Elite能谱仪，空间分辨率1nm

3. JEOL JXA-8530F电子探针：波长分辨率5eV，元素检测下限0.01wt.%

4. Bruker D8 Discover XRD系统：配置VANTEC-500二维探测器，扫描速度5000deg/min

5. Thermo Fisher Talos F200X透射电镜：STEM模式分辨率0.16nm，支持EDS面分布分析

6. Oxford Instruments Symmetry EBSD探测器：采集速度3000点/秒，角度分辨率0.5°

7. Shimadzu EPMA-1720电子探针：配备5道波谱仪，绝对精度±0.3%

8. Malvern Panalytical Empyrean XRD平台：配置高温附件（室温-1600℃）

9. Hitachi Regulus 8230冷场发射电镜：二次电子分辨率0.8nm@15kV

10. Bruker Quantax EDS系统：集成ESPIRIT 2软件平台，支持Cluster分析功能

📝 报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

⏳ 检测周期：7~15工作日，可加急。

🏅 资质：旗下实验室可出具检测/CNAS资质报告。

📏 标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

🔬 非标测试：支持定制化试验方案。

📞 售后：报告终身可查，工程师1v1服务。