1. 非线性折射系数n₂:测量波长范围400-2000nm内n₂值(典型量级10⁻²⁰-10⁻¹⁸ m²/W)
2. 三阶非线性极化率χ³:测试精度达10⁻²² m²/V²
3. 双光子吸收系数β:功率密度阈值10¹² W/cm²下的β值测定
4. 自聚焦临界功率P_cr:动态范围覆盖1kW-10MW脉冲功率
5. 克尔效应响应时间:时间分辨率优于50fs
1. 光学玻璃:包括熔融石英、BK7等激光窗口材料
2. 半导体材料:GaAs、InP等III-V族化合物晶片
3. 有机聚合物:聚苯乙烯衍生物及偶氮苯类光敏材料
4. 光子晶体:周期结构尺寸100-500nm的二维/三维晶体
5. 纳米复合材料:含Au/Ag纳米颗粒(粒径5-50nm)的复合体系
1. Z扫描法:依据ASTM E2283-2018标准建立开孔/闭孔测试系统
2. 四波混频法:执行ISO 13695:2004规定的相位匹配精度控制
3. 超连续谱分析法:符合GB/T 16601-2018宽带光源测试规范
4. 泵浦探测技术:按ISO 11551:2018搭建时间分辨测量系统
5. 空间自相位调制法:采用GB/T 30112-2013条纹分析规程
1. Z扫描系统:Model Z-2000(波长范围400-1600nm,功率密度10⁶-10¹³ W/cm²)
2. 飞秒激光器:Spectra-Physics Solstice Ace(脉宽35fs,重复频率1kHz-1MHz)
3. 条纹相机:Hamamatsu C10910-05(时间分辨率200fs,光谱响应300-1600nm)
4. 高灵敏度功率计:Ophir Vega PD300(测量范围1nW-3W,精度±0.8%)
5. 光谱分析仪:Yokogawa AQ6376(波长范围350-2400nm,分辨率0.02nm)
6. 低温恒温平台:Janis ST-500(温控范围4K-500K,稳定性±0.1K)
7. 光束质量分析仪:Ophir Spiricon M2-200s(M²测量精度±3%)
8. 纳米定位平台:PI P-563.3CD(行程300μm,分辨率0.1nm)
9. 锁相放大器:Stanford Research SR830(时间常数10μs-30ks)
10. CCD成像系统:Andor iXon Ultra 897(量子效率>95%,读出噪声<1e⁻)
📝 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
⏳ 检测周期:7~15工作日,可加急。
🏅 资质:旗下实验室可出具检测/CNAS资质报告。
📏 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
🔬 非标测试:支持定制化试验方案。
📞 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。